El Doctor Mayue Xie es una figura destacada en el campo de la alta tecnología, con una amplia trayectoria en la industria de los semiconductores y la electrónica de consumo. Así, su enfoque se ha centrado en aplicar principios de Ingeniería para resolver problemas prácticos mediante simulación, análisis de fallos y análisis de datos, con un impacto significativo en áreas como el desarrollo de productos, la manufactura avanzada y la mejora de la confiabilidad en la cadena de suministro. Además, ha sido un innovador reconocido, con más de 10 patentes y más de 20 artículos revisados por pares. 

Asimismo, ha ocupado altos cargos, como Director de Confiabilidad de Dispositivos en Microsoft, liderando el desarrollo y mantenimiento de la confiabilidad en los dispositivos de Realidad Mixta HoloLens, una tecnología avanzada que habilita aplicaciones críticas bajo condiciones ambientales exigentes. De la misma forma, se ha desempeñado como Gerente de Ingeniería y Análisis de Fallos en Intel Corporation, donde ha dirigido equipos de análisis de fallos y pruebas eléctricas para apoyar el desarrollo de tecnologías innovadoras de empaquetado 2.5D y 3D. En este sentido, su contribución en proyectos como el FPGA Stratix de 14 nm y el procesador Kaby Lake-G ha sido fundamental para la evolución de la tecnología de semiconductores. 

A su vez, Mayue Xie ha ocupado un rol de liderazgo en la comunidad académica y profesional. Como Presidente del Simposio Internacional de Pruebas y Análisis de Fallos (ISTFA), ha reunido a expertos de todo el mundo para avanzar en el conocimiento y las habilidades en este campo. También ha sido Presidente del Comité de Educación de la Sociedad de Análisis de Fallos en Dispositivos Electrónicos (EDFAS), donde ha trabajado con líderes de la industria y académicos para definir estrategias educativas que promuevan el crecimiento de la próxima generación de ingenieros. 

• Director de Confiabilidad de Dispositivos en Microsoft, Washington, Estados Unidos 
• Gerente de Ingeniería y Análisis de Fallos en Intel Corporation 

• Ingeniero de Diseño en PPC Broadband Inc. 

• Doctor en Ingeniería Mecánica y Aeroespacial por la Universidad de Syracuse 

• Licenciado en Ingeniería Eléctrica por la Universidad de Syracuse 

• Miembro de: 

• Sociedad de Análisis de Fallos en Dispositivos Electrónicos (Electronic Device Failure Analysis Society) 

• Simposio Internacional de Pruebas y Análisis de Fallos (International Symposium of Testing and Failure Analysis)