Mayue Xie博士是高科技领域的杰出人物，在半导体和消费电子产业拥有丰富的经验。他的研究重点是应用工程原理，通过仿真、故障分析和数据分析来解决实际问题，在产品开发、先进制造和供应链可靠性提升等领域产生了重要影响。此外，他还拥有超过10项专利和20篇同行评审的学术论文。 

此外，Mayue Xie曾担任多个重要职务，包括美国微软公司设备可靠性总监，负责领导HoloLens混合现实设备的可靠性开发和维护，这是一项在苛刻环境条件下运行的关键应用技术。他还曾担任英特尔公司故障分析和电气测试工程经理，领导故障分析和测试团队，支持2.5D和3D创新封装技术的开发。在此过程中，他对14纳米Stratix FPGA和Kaby Lake-G处理器等项目的贡献对半导体技术的进步至关重要。 

同时，Mayue Xie还在学术界和专业界担任领导角色。作为国际故障分析与测试研讨会（ISTFA）的主席，他汇聚了来自世界各地的专家，推动了该领域的知识和技能发展。他还曾担任电子设备故障分析学会（EDFAS）教育委员会主席，与行业领袖和学术界人士合作，制定推动下一代工程师发展的教育策略。 

• 美国微软公司设备可靠性总监 
• 英特尔公司故障分析与工程经理 

• PPC Broadband公司设计工程师 

• 雪城大学机械与航空工程博士 

• 雪城大学电气工程学士 

• 会员： 

• 电子设备故障分析学会（Electronic Device Failure Analysis Society） 

• 国际故障分析与测试研讨会（International Symposium of Testing and Failure Analysis）